All Resources

Eigensichere "Power-i"-Technologie international auf dem Vormarsch (2015); Gerlach, Udo; Johannsmeyer, Ulrich; DOI: 10.7795/610.20150112U
Ionisierende Strahlung in der Medizin (Auszug aus: PTB-Mitteilungen 2013, Band 123, Heft 2. ISSN 0030-834X) (2015); Janßen, Herbert; Ankerhold, Ulrike; Büermann, Ludwig; Kossert, Karsten; Schneider, Thorsten; et al. DOI: 10.7795/310.20130299
Die Physikalisch-Technische Reichsanstalt (PTR) in Thüringen (Auszug aus: PTB-Mitteilungen 2013, Band 123, Heft 1. ISSN 0030-834X) (2015); Bussemer, Peter; Müller, Jürgen; Dörfer, Ronny; Gleichmann, Markus; Silbermann, Elisa; et al. DOI: 10.7795/310.20130199
Evaluating and visualizing the quality of surface points determined from computed tomography volume data (2015); Fleßner, Matthias; Müller, Andreas; Helmecke, Eric; Hausotte, Tino; DOI: 10.7795/810.20150223A
Determination of metrological structural resolution of a CT system using the frequency response on surface structures (2015); Fleßner, Matthias; Vujaklija, Nemanja; Helmecke, Eric; Hausotte, Tino; DOI: 10.7795/810.20150223B
PTB-Publica (2015); Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB); DOI: 10.7795/PTBPUBLICAEN
PTB-Publica (2015); Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB); DOI: 10.7795/PTBPUBLICAGR
Röntgenspektrometrie mit Synchrotronstrahlung (2014); Müller, Matthias; Gerlach, Martin; Holfelder, Ina; Hönicke, Philipp; Lubeck, Janin; et al. DOI: 10.7795/310.20140404
Mikro- und Nano-Spektroskopie und Detektorcharakterisierung im IR- und THz-Bereich an der Metrology Light Source (2014); Hermann, Peter; Hoehl, Arne; Hornemann, Andrea; Kästner, Bernd; Müller, Ralph; et al. DOI: 10.7795/310.20140405
Oberflächenuntersuchungen mit Vakuum-UV-Strahlung (2014); Kolbe, Michael; Darlatt, Erik; Fliegauf, Rolf; Kaser, Hendrik; Gottwald, Alexander; et al. DOI: 10.7795/310.20140406
Metrologie mit Synchrotronstrahlung, Teil II (Auszug aus: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 4. ISSN 0030-834X) (2014); Scholze, Frank; Laubis, Christian; Barboutis, Annett; Buchholz, Christian; Fischer, Andreas; et al. DOI: 10.7795/310.20140499
Radiometrie für die EUV-Lithographie (2014); Scholze, Frank; Laubis, Christian; Barboutis, Annett; Buchholz, Christian; Fischer, Andreas; et al. DOI: 10.7795/310.20140401
Streuverfahren an nanostrukturierten Oberflächen (2014); Scholze, Frank; Haase, Anton; Krumrey, Michael; Soltwisch, Victor; Wernecke, Jan; DOI: 10.7795/310.20140402
Größenbestimmung von Nanopartikeln mit Röntgenkleinwinkelstreuung (2014); Krumrey, Michael; Garcia-Diez, Raul; Gollwitzer, Christian; Langner, Stefanie; DOI: 10.7795/310.20140403
Ermittelte Regeln und Erkenntnisse des Regelermittlungsausschusses nach § 46 des Mess- und Eichgesetzes. Stand: 8. Dezember 2014 (2014); Regelermittlungsausschuss bei der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig; DOI: 10.7795/510.20141220R