|
Die Physikalisch-Technische Reichsanstalt (PTR) in Thüringen (Auszug aus: PTB-Mitteilungen 2013, Band 123, Heft 1. ISSN 0030-834X) (2015);
Bussemer, Peter;
Müller, Jürgen;
Dörfer, Ronny;
Gleichmann, Markus;
Silbermann, Elisa;
Bunk, Philip;
Eckstein, Franz;
Göwert, Ingrid;
Göwert, Edgar;
Grusdeva, Elena Nikolaevna;
Ginak, Elena Borisovna;
Häßner, Kurt;
Häßner, Gudrun;
Roth, Martin;
Karlsch, Rainer;
Möbius, Klaus;
Karg, Heike;
Simon, Jens;
DOI: 10.7795/310.20130199
|
|
Evaluating and visualizing the quality of surface points determined from computed tomography volume data (2015);
Fleßner, Matthias;
Müller, Andreas;
Helmecke, Eric;
Hausotte, Tino;
DOI: 10.7795/810.20150223A
|
|
Determination of metrological structural resolution of a CT system using the frequency response on surface structures (2015);
Fleßner, Matthias;
Vujaklija, Nemanja;
Helmecke, Eric;
Hausotte, Tino;
DOI: 10.7795/810.20150223B
|
|
PTB-Publica (2015);
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB);
DOI: 10.7795/PTBPUBLICAEN
|
|
PTB-Publica (2015);
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB);
DOI: 10.7795/PTBPUBLICAGR
|
|
Röntgenspektrometrie mit Synchrotronstrahlung (2014);
Müller, Matthias;
Gerlach, Martin;
Holfelder, Ina;
Hönicke, Philipp;
Lubeck, Janin;
Nutsch, Andreas;
Pollakowski, Beatrix;
Streeck, Cornelia;
Unterumsberger, Rainer;
Weser, Jan;
Beckhoff, Burkhard;
DOI: 10.7795/310.20140404
|
|
Mikro- und Nano-Spektroskopie und Detektorcharakterisierung im IR- und THz-Bereich an der Metrology Light Source (2014);
Hermann, Peter;
Hoehl, Arne;
Hornemann, Andrea;
Kästner, Bernd;
Müller, Ralph;
Beckhoff, Burkhard;
Ulm, Gerhard;
DOI: 10.7795/310.20140405
|
|
Oberflächenuntersuchungen mit Vakuum-UV-Strahlung (2014);
Kolbe, Michael;
Darlatt, Erik;
Fliegauf, Rolf;
Kaser, Hendrik;
Gottwald, Alexander;
Richter, Mathias;
DOI: 10.7795/310.20140406
|
|
Metrologie mit Synchrotronstrahlung, Teil II (Auszug aus: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 4. ISSN 0030-834X) (2014);
Scholze, Frank;
Laubis, Christian;
Barboutis, Annett;
Buchholz, Christian;
Fischer, Andreas;
Puls, Jana;
Stadelhoff, Christian;
Haase, Anton;
Krumrey, Michael;
Soltwisch, Victor;
Wernecke, Jan;
Garcia-Diez, Raul;
Gollwitzer, Christian;
Langner, Stefanie;
Müller, Matthias;
Gerlach, Martin;
Holfelder, Ina;
Hönicke, Philipp;
Lubeck, Janin;
Nutsch, Andreas;
Pollakowski, Beatrix;
Streeck, Cornelia;
Unterumsberger, Rainer;
Weser, Jan;
Beckhoff, Burkhard;
Hermann, Peter;
Hoehl, Arne;
Hornemann, Andrea;
Kästner, Bernd;
Müller, Ralph;
Ulm, Gerhard;
Kolbe, Michael;
Darlatt, Erik;
Fliegauf, Rolf;
Kaser, Hendrik;
Gottwald, Alexander;
Richter, Mathias;
DOI: 10.7795/310.20140499
|
|
Radiometrie für die EUV-Lithographie (2014);
Scholze, Frank;
Laubis, Christian;
Barboutis, Annett;
Buchholz, Christian;
Fischer, Andreas;
Puls, Jana;
Stadelhoff, Christian;
DOI: 10.7795/310.20140401
|
|
Streuverfahren an nanostrukturierten Oberflächen (2014);
Scholze, Frank;
Haase, Anton;
Krumrey, Michael;
Soltwisch, Victor;
Wernecke, Jan;
DOI: 10.7795/310.20140402
|
|
Größenbestimmung von Nanopartikeln mit Röntgenkleinwinkelstreuung (2014);
Krumrey, Michael;
Garcia-Diez, Raul;
Gollwitzer, Christian;
Langner, Stefanie;
DOI: 10.7795/310.20140403
|
|
Quellengestützte Radiometrie mit Synchrotronstrahlung (2014);
Klein, Roman;
Fliegauf, Rolf;
Kroth, Simone;
Paustian, Wolfgang;
Richter, Mathias;
Thornagel, Reiner;
DOI: 10.7795/310.20140303K
|
|
Ermittelte Regeln und Erkenntnisse des Regelermittlungsausschusses nach § 46 des Mess- und Eichgesetzes. Stand: 8. Dezember 2014 (2014);
Regelermittlungsausschuss bei der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig;
DOI: 10.7795/510.20141220R
|
|
Europäische Metrologie (2014);
Göbel, Ernst O.;
Kühne,Michael;
Schmid, Wolfgang;
Stenger, Jörn;
Siegner, Uwe;
Bosse,Harald;
Koch, Hans;
Buck, Wolfgang;
Leitner, Arnold;
Pendrill, Leslie;
DOI: 10.7795/310.20090499
|
