|
Experiments for the New SI, 2nd Edition 07 / 2018
(2018);
Scharf, Rainer ; Middelmann, Thomas ; Bauch, Andreas ; Weyers, Stefan ; Peik, Ekkehard ; et al.
DOI:
10.7795/310.20160299en02
|
|
Experimente für das neue Internationale Einheitensystem (SI), 2. Auflage 07 / 2018
(2018);
Scharf, Rainer ; Middelmann, Thomas ; Bauch, Andreas ; Weyers, Stefan ; Peik, Ekkehard ; et al.
DOI:
10.7795/310.20160399de02
|
|
Metrologie für die Digitalisierung von Wirtschaft und Gesellschaft
(2018);
Eichstädt, Sascha ; Bär, Markus ; Elster, Clemens ; Hackel, Siegfried Gustav ; Härtig, Frank ; et al.
DOI:
10.7795/310.20170499
|
|
Software and ICT-related Challenges in Legal Metrology
(2018);
Thiel, Florian
DOI:
10.7795/310.20170405
|
|
A Digital Quality Infrastructure for Europe: The European Metrology Cloud
(2018);
Thiel, Florian ; Esche, Marko ; Grasso Toro, Federico ; Peters, Daniel ; Oppermann, Alexander ; et al.
DOI:
10.7795/310.20170404
|
|
The Digital Calibration Certificate
(2018);
Hackel, Siegfried Gustav ; Härtig, Frank ; Hornig, Julia ; Wiedenhöfer, Thomas
DOI:
10.7795/310.20170403
|
|
Mathematics and Statistics for Digitalization
(2018);
Bär, Markus ; Elster, Clemens
DOI:
10.7795/310.20170402
|
|
PTB Digitalization Strategy
(2018);
Eichstädt, Sascha
DOI:
10.7795/310.20170401EN
|
|
PTB-Digitalisierungsstrategie
(2018);
Eichstädt, Sascha
DOI:
10.7795/310.20170401DE
|
|
50 Jahre atomare Definition der Sekunde ; 50 Years of the Atomic Definition of the Second
(2017);
Stenger, Jörn ; Graf, Johannes ; Bauch, Andreas ; Whibberley, Peter ; Lombardi, Michael ; et al.
DOI:
10.7795/310.20170399
|
|
Edición Especial Experimentos para el nuevo SI, el Sistema Internacional de Unidades
(2017);
Scharf, Rainer ; Middelmann, Thomas ; Bauch, Andreas ; Weyers, Stefan ; Peik, Ekkehard ; et al.
DOI:
10.7795/310.20160299ES
|
|
Namensgeber physikalischer Einheiten
(2017);
Dobrinski, Paul
DOI:
10.7795/310.20170299
|
|
Metrologische IT, Teil I
(2017);
Thiel, Florian ; Esche, Marko ; Mehrfeld, Jens ; Heyszl, Johann ; Grottker, Ulrich ; et al.
DOI:
10.7795/310.20160499
|
|
Metrologische IT, Teil II
(2017);
Thiel, Florian ; Turner, Ian ; Cloutier, Philippe ; Meurer, Josef ; Elfroth, Marco ; et al.
DOI:
10.7795/310.20170199
|
|
Elektrische Quantennormale für die Praxis
(2016);
Siegner, Uwe ; Kohlmann, Johannes ; Kieler, Oliver ; Behr, Ralf ; Smandek, Bernhard ; et al.
DOI:
10.7795/310.20160399
|
