| Titel: | Secondary Parameters of technologically relevant materials and their relation to quantitative MOIF measurements |
| Autoren: |
Sievers, Sibylle, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Fachbereich 2.5, Halbleiterphysik und Magnetismus Dorosinskiy, Lev, TUBITAK National Metrology Institute Linder, Morris, INNOVENT e. V. Technologieentwicklung Weking, Gerd, International Standards Consulting |
| Beitragende: | HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 |
| Seiten: | 4 |
| Sprache: | en |
| DOI: | 10.7795/530.20230323A |
| Art der Ressource: | Text / Guide |
| Herausgeber: | Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) |
| Rechte: | Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch. |
| Daten: |
Verfügbar: 2023-04-13 |
| Datei: |
Datei herunterladen
(application/pdf)
520.87 kB (533368 Bytes)
MD5 Prüfsumme: a1ee52c2cfb422a84298c7008b9373ef SHA256 Prüfsumme: 25f33cb38734bae53d1569ecddb9de1894701642b05a788bdfb37690b5c0e8dc |
| Schlagworte | MOIF ; magneto-optical indicator films ; local magnetic field measurements |
| Zusammenfassung: | This document lists secondary parameters of magnetic encoders and describes an approach to determine these secondary parameters of real scales using qMOIF combined with mathematical analysis tools. |
| Zitierform: | Sievers, Sibylle ; et al. Secondary Parameters of technologically relevant materials and their relation to quantitative MOIF measurements . Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), 2023. DOI: https://doi.org/10.7795/530.20230323A |
| Förderung: | European Commission (EC), ISNI: 0000 0001 2162 673X, Grant Title: Standardization of a quantitative magneto-optical indicator film based magnetic field measurement technique, Grant Number: EMPIR 20SIP04 qMOIF |