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Titel:
Secondary Parameters of technologically relevant materials and their relation to quantitative MOIF measurements
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| Autoren: |
Autoren:
Sievers, Sibylle, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Fachbereich 2.5, Halbleiterphysik und MagnetismusDorosinskiy, Lev, TUBITAK National Metrology Institute Linder, Morris, INNOVENT e. V. Technologieentwicklung Weking, Gerd, International Standards Consulting |
| Beitragende: |
Beitragende:
HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887
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Seiten:
4
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| Sprachen: |
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en
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| DOI: |
DOI:
10.7795/530.20230323A
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| Art der Ressource: |
Art der Ressource:
Text / Guide
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| Verlag: |
Verlag:
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
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| Rechte: |
Rechte:
Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch.
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| Datumsangaben: |
Datumsangaben:
Verfügbar:
2023-04-13
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| Datei: |
Datei:
Datei herunterladen
(application/pdf)
520.9 KB
MD5 Prüfsumme: a1ee52c2cfb422a84298c7008b9373ef SHA256 Prüfsumme: 25f33cb38734bae53d1569ecddb9de1894701642b05a788bdfb37690b5c0e8dc |
| Stichwörter: |
Stichwörter:
MOIF ;
magneto-optical indicator films ;
local magnetic field measurements
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| Zusammenfassung: |
Zusammenfassung:
This document lists secondary parameters of magnetic encoders and describes an approach to determine these secondary parameters of real scales using qMOIF combined with mathematical analysis tools.
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| Zitat: |
Zitat:
Sievers, Sibylle ; et al. Secondary Parameters of technologically relevant materials and their relation to quantitative MOIF measurements . Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), 2023. DOI: https://doi.org/10.7795/530.20230323A
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| Förderung: |
Förderung:
European Commission (EC), ISNI: 0000 0001 2162 673X, Grant Title: Standardization of a quantitative magneto-optical indicator film based magnetic field measurement technique, Grant Number: EMPIR 20SIP04 qMOIF
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