| Title: | Einzelphotonenmetrologie |
| Authors: | Kück, Stefan, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abteilung 4, Optik, ORCID: 0000-0002-5267-8142 |
| Contributors: | HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 |
| Pages: | 24 |
| Language: | de |
| DOI: | 10.7795/310.20200305 |
| Resource Type: | Text / Article |
| Publisher: | Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) |
| Rights: | Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch. |
| Relationships: | IsPartOf: DOI 10.7795/310.20200399 |
| Dates: |
Available: 2020-10-13 Created: 2020-10 |
| File: |
Download File
(application/pdf)
3.79 MB (3972461 Bytes)
MD5 Checksum: 1a2927553048e87e8e0c108c15fb7fbc SHA256 Checksum: e35f876b77b508a1111cd283396667c5b34eee7432ee1c00bb8c1d6bc9d01718 |
| Keywords | Einzelphotonenmetrologie ; Einzelphotonenquelle ; Einzelphotonendetektor ; Kalibrierung ; SPAD ; TES ; SNSPD ; NV ; Nanodiamond ; Quantendot |
| Series Information: | Enthalten in PTB-Mitteilungen. Band 130 (2020), Heft 3. ISSN 0030-834X |
| Citation: | Kück, Stefan. Einzelphotonenmetrologie, 2020. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB). DOI: https://doi.org/10.7795/310.20200305 |