| Titel: |
Titel:
Einzelphotonenmetrologie
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| Autoren: |
Autoren:
Kück, Stefan, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abteilung 4, Optik, ORCID: 0000-0002-5267-8142
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| Beitragende: |
Beitragende:
HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 |
| Seiten: |
Seiten:
24
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| Sprachen: |
Sprachen:
de
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| DOI: |
DOI:
10.7795/310.20200305
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| Art der Ressource: |
Art der Ressource:
Text / Article
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| Verlag: |
Verlag:
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
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| Rechte: |
Rechte:
Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch.
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| Beziehungen: |
Beziehungen:
IsPartOf: DOI 10.7795/310.20200399
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| Datumsangaben: |
Datumsangaben:
Verfügbar: 2020-10-13 Erstellt: 2020-10 |
| Datei: |
Datei:
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(application/pdf)
3.79 MB (3972461 Bytes)
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| Stichwörter: |
Stichwörter:
Einzelphotonenmetrologie ;
Einzelphotonenquelle ;
Einzelphotonendetektor ;
Kalibrierung ;
SPAD ;
TES ;
SNSPD ;
NV ;
Nanodiamond ;
Quantendot
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| Information zur Reihe: |
Information zur Reihe:
Enthalten in PTB-Mitteilungen. Band 130 (2020), Heft 3. ISSN 0030-834X
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| Zitat: |
Zitat:
Kück, Stefan. Einzelphotonenmetrologie, 2020. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB). DOI: https://doi.org/10.7795/310.20200305
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-OAR
