Title: Einzelphotonenmetrologie
Authors: Kück, Stefan, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abteilung 4, Optik, ORCID: 0000-0002-5267-8142
Contributors: HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887
Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887
Pages:24
Language:de
DOI:10.7795/310.20200305
Resource Type: Text / Article
Publisher: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
Rights: Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch.
Relationships: IsPartOf: DOI 10.7795/310.20200399
Dates: Available: 2020-10-13
Created: 2020-10
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Keywords: Einzelphotonenmetrologie ; Einzelphotonenquelle ; Einzelphotonendetektor ; Kalibrierung ; SPAD ; TES ; SNSPD ; NV ; Nanodiamond ; Quantendot
Series Information: Enthalten in PTB-Mitteilungen. Band 130 (2020), Heft 3. ISSN 0030-834X
Citation: Kück, Stefan. Einzelphotonenmetrologie, 2020. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB). DOI: https://doi.org/10.7795/310.20200305