| Titel: | Oberflächenuntersuchungen mit Vakuum-UV-Strahlung |
| Autoren: |
Kolbe, Michael, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Darlatt, Erik, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Fliegauf, Rolf, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Instrumentierung Berlin-Adlershof", Berlin Kaser, Hendrik, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Gottwald, Alexander, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Alle Autoren anzeigen (6) |
| Beitragende: | Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 |
| Seiten: | 4 |
| Sprache: | de |
| DOI: | 10.7795/310.20140406 |
| Art der Ressource: | Text / Article |
| Herausgeber: | Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) |
| Rechte: | Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch. |
| Beziehungen: | IsPartOf: ISSN 0030-834X |
| Daten: |
Verfügbar: 2014-12-23 Veröffentlicht: 2014-12 |
| Datei: |
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2.93 MB (3074561 Bytes)
MD5 Prüfsumme: 5680839bdcc4a78c4cb61f1a08121383 SHA256 Prüfsumme: 41bf65244745fa958c59bc6f1f0ab18523cba0dd834c957c3b11cf77efa6e05a |
| Schlagworte | Ellipsometrie ; Elektronenspektroskopie ; Nanoschichten ; optische Konstanten ; elektronische Struktur ; organische Halbleiter |
| Informationen zur Reihe: | PTB-Mitteilungen. Band 124 (2014), Heft 4, Seite 29 - 32. ISSN 0030-834X |
| Bemerkung: | Dieser Artikel erscheint zugleich in: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 4, S. 29 - 32, ISSN 0030-834X. Die PTB-Mitteilungen werden von der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig und Berlin, herausgegeben. Die Print-Fassung erscheint 4-mal jährlich im Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH, Bremen. |