| Title: | Oberflächenuntersuchungen mit Vakuum-UV-Strahlung |
| Authors: |
Kolbe, Michael, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Darlatt, Erik, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Fliegauf, Rolf, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Instrumentierung Berlin-Adlershof", Berlin Kaser, Hendrik, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Gottwald, Alexander, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Show all authors (6) |
| Contributors: | Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 |
| Pages: | 4 |
| Language: | de |
| DOI: | 10.7795/310.20140406 |
| Resource Type: | Text / Article |
| Publisher: | Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) |
| Rights: | Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch. |
| Relationships: | IsPartOf: ISSN 0030-834X |
| Dates: |
Available: 2014-12-23 Issued: 2014-12 |
| File: |
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2.93 MB (3074561 Bytes)
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| Keywords | Ellipsometrie ; Elektronenspektroskopie ; Nanoschichten ; optische Konstanten ; elektronische Struktur ; organische Halbleiter |
| Series Information: | PTB-Mitteilungen. Band 124 (2014), Heft 4, Seite 29 - 32. ISSN 0030-834X |
| Remark: | Dieser Artikel erscheint zugleich in: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 4, S. 29 - 32, ISSN 0030-834X. Die PTB-Mitteilungen werden von der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig und Berlin, herausgegeben. Die Print-Fassung erscheint 4-mal jährlich im Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH, Bremen. |