Title: Oberflächenuntersuchungen mit Vakuum-UV-Strahlung
Authors: Kolbe, Michael, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin
Darlatt, Erik, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin
Fliegauf, Rolf, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Instrumentierung Berlin-Adlershof", Berlin
Kaser, Hendrik, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin
Gottwald, Alexander, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin
Richter, Mathias, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Fachbereich "Radiometrie mit Synchrotronstrahlung", Berlin
Contributors: Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887
HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887
Pages:4
Language:de
DOI:10.7795/310.20140406
Resource Type: Text / Article
Publisher: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
Rights: Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch.
Relationships: IsPartOf: ISSN 0030-834X
Dates: Available: 2014-12-23
Issued: 2014-12
File: Download File (application/pdf) 2.93 MB (3074561 Bytes)
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Keywords: Ellipsometrie ; Elektronenspektroskopie ; Nanoschichten ; optische Konstanten ; elektronische Struktur ; organische Halbleiter
Series Information: PTB-Mitteilungen. Band 124 (2014), Heft 4, Seite 29 - 32. ISSN 0030-834X
Remark: Dieser Artikel erscheint zugleich in: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 4, S. 29 - 32, ISSN 0030-834X. Die PTB-Mitteilungen werden von der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig und Berlin, herausgegeben. Die Print-Fassung erscheint 4-mal jährlich im Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH, Bremen.