| Title: | Röntgenspektrometrie mit Synchrotronstrahlung |
| Authors: |
Müller, Matthias, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgen- und IR-Spektrometrie", Berlin Gerlach, Martin, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgen- und IR-Spektrometrie", Berlin Holfelder, Ina, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgen- und IR-Spektrometrie", Berlin Hönicke, Philipp, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgen- und IR-Spektrometrie", Berlin Lubeck, Janin, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgen- und IR-Spektrometrie", Berlin Show all authors (11) |
| Contributors: | Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 |
| Pages: | 7 |
| Language: | de |
| DOI: | 10.7795/310.20140404 |
| Resource Type: | Text / Article |
| Publisher: | Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) |
| Rights: | Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch. |
| Relationships: | IsPartOf: ISSN 0030-834X |
| Dates: |
Available: 2014-12-23 Issued: 2014-12 |
| File: |
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3.24 MB (3398430 Bytes)
MD5 Checksum: 90aa4ddb148d6c8ac263739ebdf5346f SHA256 Checksum: c076f61f790b851313b045cf2466e7c56afa7a59835e33c1b20b414871b0d784 |
| Keywords: | referenzprobenfreie Röntgenfluoreszenzanalytik ; Fundamentalparameter ; NEXAFS ; Elementgehalte ; chemische Speziation ; Nanoschichten ; Energiematerialien |
| Series Information: | PTB-Mitteilungen. Band 124 (2014), Heft 4, Seite 17 - 23. ISSN 0030-834X |
| Remark: | Dieser Artikel erscheint zugleich in: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 4, S. 17 - 23, ISSN 0030-834X. Die PTB-Mitteilungen werden von der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig und Berlin, herausgegeben. Die Print-Fassung erscheint 4-mal jährlich im Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH, Bremen. |