Title: Reflektometrie mit Synchrotronstrahlung
Authors: Krumrey, Michael, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgenradiometrie", Berlin
Cibik, Levent, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgenradiometrie", Berlin
Fischer, Andreas, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "EUV-Radiometrie", Berlin
Gottwald, Alexander, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin
Kroth, Udo, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin
Scholze, Frank, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "EUV-Radiometrie", Berlin, ORCID: 0000 0001 8414 2169
Contributors: Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887
HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887
Pages:7
Language:de
DOI:10.7795/310.20140307
Resource Type: Text / Article
Publisher: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
Rights: Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch.
Relationships: IsPartOf: ISSN 0030-834X
Dates: Available: 2014-11
Issued: 2014-09
File: Download File (application/pdf) 814.48 kB (834028 Bytes)
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Keywords: Reflektometrie ; UV-Strahlung ; VUV-Strahlung ; EUV-Strahlung ; Röntgenstrahlung ; Nanoschichten ; Avogadro-Konstante ; optische Konstanten ; Polarisation
Series Information: PTB-Mitteilungen. Band 124 (2014), Heft 3, Seite 35 - 41. ISSN 0030-834X
Remark: Dieser Artikel erscheint zugleich in: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 3, S. 35 - 41. ISSN 0030-834X. Die PTB-Mitteilungen werden von der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig und Berlin, herausgegeben. Die Print-Fassung erscheint 4-mal jährlich im Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH, Bremen.