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Reflektometrie mit Synchrotronstrahlung,
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Krumrey, Michael, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgenradiometrie", BerlinCibik, Levent, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgenradiometrie", Berlin Fischer, Andreas, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "EUV-Radiometrie", Berlin Gottwald, Alexander, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Kroth, Udo, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Show all authors (6) |
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Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 |
Pages: |
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7
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Languages: |
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de
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DOI: |
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10.7795/310.20140307
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Resource Type: |
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Text / Article
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Publisher: |
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Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
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Rights: |
Rights:
Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch.
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Relationships: |
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IsPartOf: ISSN 0030-834X
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Dates: |
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Available:
2014-11
Issued: 2014-09 |
File: |
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(application/pdf)
814.5 KB
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Keywords: |
Keywords:
Reflektometrie ;
UV-Strahlung ;
VUV-Strahlung ;
EUV-Strahlung ;
Röntgenstrahlung ;
Nanoschichten ;
Avogadro-Konstante ;
optische Konstanten ;
Polarisation
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Series Information: |
Series Information:
PTB-Mitteilungen. Band 124 (2014), Heft 3, Seite 35 - 41. ISSN 0030-834X
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Dieser Artikel erscheint zugleich in: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 3, S. 35 - 41. ISSN 0030-834X. Die PTB-Mitteilungen werden von der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig und Berlin, herausgegeben. Die Print-Fassung erscheint 4-mal jährlich im Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH, Bremen.
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-OAR