Title: | Reflektometrie mit Synchrotronstrahlung |
Authors: |
Krumrey, Michael, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgenradiometrie", Berlin Cibik, Levent, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "Röntgenradiometrie", Berlin Fischer, Andreas, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "EUV-Radiometrie", Berlin Gottwald, Alexander, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Kroth, Udo, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Arbeitsgruppe "UV- und VUV-Radiometrie", Berlin Show all authors (6) |
Contributors: | Editor: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 HostingInstitution: Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), ISNI: 0000 0001 2186 1887 |
Pages: | 7 |
Language: | de |
DOI: | 10.7795/310.20140307 |
Resource Type: | Text / Article |
Publisher: | Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) |
Rights: | Vervielfältigung nur zum eigenen persönlichen Gebrauch. |
Relationships: | IsPartOf: ISSN 0030-834X |
Dates: |
Available: 2014-11 Issued: 2014-09 |
File: |
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Keywords: | Reflektometrie ; UV-Strahlung ; VUV-Strahlung ; EUV-Strahlung ; Röntgenstrahlung ; Nanoschichten ; Avogadro-Konstante ; optische Konstanten ; Polarisation |
Series Information: | PTB-Mitteilungen. Band 124 (2014), Heft 3, Seite 35 - 41. ISSN 0030-834X |
Remark: | Dieser Artikel erscheint zugleich in: PTB-Mitteilungen 2014, Band 124, Heft 3, S. 35 - 41. ISSN 0030-834X. Die PTB-Mitteilungen werden von der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB), Braunschweig und Berlin, herausgegeben. Die Print-Fassung erscheint 4-mal jährlich im Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH, Bremen. |